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科研小白,如何在最短的时间利用FPGA导入RISC-V内核,实现10个传感器数据采集?

科研小白,如何在最短的时间利用FPGA导入RISC-V内核,实现10个传感器数据采集?

请问:怎么在一片FPGA里面加多个(比如10个)MicroBlaze呢,用什么总线连接,比较合适?

首先建议升级ISE软件版本。

在EDK中请尝试在生成好的系统上再手动加入需要的MicroBlaze软核。

PCIE的FPGA实现方法

PCIe接口的视频采集解决方案,这种方案的独特之处在于系统以一片FPGA(现场可编程门阵列)为核心。基于FPGA的解决方案让我们能在最短时间内开发出完整的产品方案,并且便于未来快速提升性能。

FPGA(Field-Programmable Gate Array),即现场可编程门阵列,它是在PAL、GAL、CPLD等可编程器件的基础上进一步发展的产物。它是作为专用集成电路(ASIC)领域中的一种半定制电路而出现的,既解决了定制电路的不足,又克服了原有可编程器件门电路数有限的缺点。

如何在fpga中实现一个多核处理器

实现多核处理器。。。你NB你自己写啊,不的话用第三方IP核,或者有的fpga内嵌双核Cro3,不知道有没有记错,你一定要多核,还是自己写吧,不过我估计你都不知道我在说啥

如何加速fpga开发

设计阶段

  在这一阶段不仅要设计,而且要使用仿真工具开始调试。实践证明,正确使用仿真为找到和校正设计错误提供了一条有效的途径。但是,不应依赖仿真作为调试FPGA设计的唯一工具。

  在设计阶段,还需要提前考虑调试和检验阶段,规划怎样在线快速调试FPGA,这可以定义整体调试方法,帮助识别要求的任何测试测量工具,确定选择的调试方法对电路板设计带来的影响。针对可能选用的FPGA存在的高速总线,除了考虑逻辑时序的测试和验证外,还应该充分考虑后面可能面临的信号完整性测试和分析难题。

  调试和检验阶段

  在调试阶段,必需找到仿真没有找到的棘手问题。怎样以省时省力的方式完成这一工作是一个挑战。

  在本文的第一部分,我们将考察怎样选择正确的FPGA调试方法及怎样有效利用新方法的处理能力,这些新方法可以只使用少量的FPGA针脚查看许多内部FPGA信号。如果使用得当,您可以突破最棘手的FPGA调试问题。

  FPGA调试方法

  在设计阶段需要作出的关键选择是使用哪种FPGA调试方法。在理想情况下,您希望有一种方法,这种方法可以移植到所有FPGA设计中,能够洞察FPGA内部运行和系统运行过程,为确定和分析棘手的问题提供相应的处理能力。

  基本在线FPGA调试方法有两种:使用嵌入式逻辑分析仪以及使用外部逻辑分析仪。选择使用哪种方法取决于项目的调试需求。

  嵌入式逻辑分析仪内核

  主要FPGA厂商针对器件的在线调试都提供了嵌入式逻辑分析仪内核,如Altera的SignalTap II和Xilinx的ChipScope ILA。这些知识产权模块插入FPGA设计中,同时提供触发功能和存储功能。它们使用FPGA逻辑资源实现触发电路,使用FPGA存储模块实现存储功能。它们使用JTAG配置内核操作,并用来把捕获的数据传送到PC上进行查看。

  由于嵌入式逻辑分析仪使用内部FPGA资源,因此其通常用于大型FPGA,这些大型FPGA可以更好地消化插入内核带来的开销。一般来说,用户希望内核占用的FPGA逻辑资源不超过可用资源的5%。

  与任何调试方法一样,还要知道这种方法存在的部分矛盾。

  针脚与内部资源

  嵌入逻辑分析仪内核不使用额外的测试针脚,因为它通过现有的JTAG针脚访问内核。这意味着即使设计受到FPGA针脚限制,您仍可以使用这种方法。矛盾在于,它使用的内部FPGA逻辑资源和存储模块可以用来实现设计。此外,由于使用片内内存存储捕获的数据,因此内存深度一般相对较浅。

  探测与运行模式

  嵌入式逻辑分析仪核心的探测非常简单。它使用现有的JTAG针脚,因此不必担心怎样把外部逻辑分析仪连接到系统上。矛盾在于,尽管嵌入式逻辑分析仪可以查看FPGA操作,但没有一种方式把这些信息与电路板级或系统级信息时间关联起来。而把FPGA内部的信号与FPGA外部的信号关联起来对解决最棘手的调试挑战至关重要。在分析方法上,嵌入式逻辑分析仪只能进行状态分析。

  成本与灵活性

  大多数FP

GA厂商提供了嵌入式逻辑分析仪内核,而其价格要低于全功能外部逻辑分析仪。虽然用户希望更多的功能,但嵌入式逻辑分析仪内核的功能无论从通用性,分析方式,触发能力,还是从存储和分析能力都弱于全功能外部逻辑分析仪,而用户通常需要这些功能,来捕获和分析棘手的调试挑战。例如,嵌入式逻辑分析仪只能在状态模式下操作,它们捕获与FPGA设计中已有的指定时钟同步的数据,因此不能提供精确的信号定时关系。

  外部逻辑分析仪

  由于嵌入式逻辑分析仪方法存在的部分限制,许多FPGA设计人员已经采用外部逻辑分析仪方法,来利用FPGA的灵活性和外部逻辑分析仪的处理能力,如泰克TLA系列逻辑分析仪。

  在这种方法中,感兴趣的内部信号路由到FPGA没有使用的针脚上,然后连接到逻辑分析仪上。这种方法提供了非常深的内存,适合调试那种出现故障和实际导致该故障的原因在时间上相距很远的问题;对于需要采集大量数据进行后期分析的设计人员也非常必要。另外它还可以把内部FPGA信号与电路系统中的其它活动时间关联起来。

  与嵌入式逻辑分析仪方法一样,也需要考虑许多矛盾。

  针脚与内部资源

  外部逻辑分析仪方法采用非常少的逻辑资源,不使用FPGA内存资源。它释放了这些资源,来实现所需功能。现在的矛盾在于,必需增加专用于调试的针脚数量,而很明显,设计要使用这些针脚。

  探测与工作模式

  外部逻辑分析仪探测要比嵌入式逻辑分析仪方法要求的探测复杂一些。必需确定怎样使用逻辑分析仪探头探测FPGA内部信号,而不能使用电路板上已有的JTAG连接器。最简便的方式是在电路板中增加一个测试连接器,这可以简便地把FPGA信号与系统中的其它信号关联起来。