电子元器件的寿命试验属于 国产电子元器件寿命

寿命指的是使用寿命,不是库存寿命,有些元器件,库存期对寿命也有影响,比如电解电容.不同厂家生产的不同的元器件,寿命不同,甚至同一厂家,不同系列的元器件,寿命也不同的.比如红宝石的铝电解,有寿命2000h的,3000h的,8000h的.请采纳.

看看这个行不行 电工电子产品环境试验国家标准汇编 一、GB/T2423 有以下51个标准组成:1 GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验A: 低温.

小功耗的二、三极管、MOS管一般是十万小时以上(每天工作6-7小时可用30年).运放数字稳压IC,核心元器件(CPU、MCU、DSP)属多种元件混合,里面单个元件也是十万小时以上,厂家出厂时也只能保正万分之一的损坏率,使用当中最多也只能保5年,一般是1-3年.各种金膜/氧膜/绕线等电阻各种小功耗电感、变压器,这些一般不谈论它的使用寿命.铝电解/钽电解/陶瓷等电容跟时间有关,最少也有十年.

total=20+30+80+40+30=200 (1)列出频率分布表 〈20/200〉〈30/200〉〈80/200〉〈40/200〉〈30/200〉=〈0.1〉〈0.15〉〈0.4〉〈0.2〉〈0.15〉 (2)估计电子原件寿命在100h~400h以内的频率=0.1+0.15+0.4=0.65 (3)估计电子原件寿命在400h以上的频率=0.2+0.15=0.35

寿命试验机是试验机其中一类用来试验或验证产品设备在特定的环境模拟下能否适于使用、有效完成其功能的时间、有效使用次数、及检测出其老化疲劳值的试验机(也就是检测出产品设备在正常工作或加速工作状态下的极限“保质期”).

好在做法完全一样,我按后面写的9000告诉你这类题目的做法.指数分布的分布函数F(x)=1-e^(-λx)(当x>0,其它处为0) P(X>=9000)=F(+∞)-F(9000)=1-[1-e^(-9000λ)]=e^(-9000λ) 由已知,P(X>=9000)=e^(-0.9),所以9000λ=0.9 ==> λ=0.0001 指数分布的数学期望是1/λ,所以该种电子元件的平均寿命是1/0.0001=10000小时.

用盐雾试验箱可以测试你的产品的金属构件在酸性环境下的扩腐蚀性.这样可以通过计算来测定你的产品在普通环境使用下的扩腐寿命.还有就是高温烘箱.用于检测你的产品在高温下的承受能力 .还有高低温湿热交换箱.能设定你的产品在高温环境试验一段时间,然后再转到低温环境下试验一段时间的承受能力.还有其它的如跌落试验.用于测试你的产品在包装了后,放在包装箱用,用一定的试验高度来测试纸箱或产品承受高空跌落的试验 .电子产品有的还会测试开关寿命试验.也就是说,强制的让你的电子产品不停的启动,然后停止,然后再启动 再停止这样的一个重复.看你的产品能承受多少次此试验然后损坏.还有其它的.像安规方面的试验等等.要看你具体的测试要求.

好东西随便用个10年没问题

(1)[10/(150*150)]^3(2) [1-10/(150*150)]^3

E(X)=100=1/λ D(X)=1/λ^2=10000 根据大数定理P{∑X>1920}=P{(∑X-16x100)/√(16x10000)>(1920-16x100)/√(16x10000)} =1-Φ(0.8)=0.2119