晶片生产过程检测晶片的DPU=1，缺陷随机的且服从正态分布，则随机抽取一片晶片没有缺陷的概率为多少？

独立同分布（大学概率论与数理统计）

你好，我先把你的问题缕下哈：

1. 独立同分布：首先独立的问题，高中就学过，对于AB来说若P（AB）=P(A)P(B)则说明AB独立，同分布很好理解，他们都是服从同一个分布，也就是说明他们的概率分布是一样的。所以独立同分布简单来说就是他们之间相互独立+满足同一个分布。二项分布只是一种独立同分布而已。所以不要整晕了

2. 中心极限定理：他重点想说的是，每次事件都抽取一次，每个事件独立很显然，因为抽取不会影响到下一次，都是同一个样本抽取，所以同分布，中心极限定理想说明的就是，当样本个数趋紧于无穷大的时候，这个样本的均值服从正态分布，仅此而已。这也就是说明生活中很多地方都是服从正态分布的。

3. 二项分布（n充伯努利试验）与独立同分布是什么关系？

二项分布的一个典型例子就是，又放回的抽取东西，所以独立同分布是他的性质而已

若你还有不懂得，欢迎继续问，谢谢合作(*^__^*)

用特征函数来证明。

设ξi为独立同分布的随机变量，m为ξ的期望，σ为ξ的标准差。ηn=∑(ξi-m)/(σ*sqrt(n))。(从1连加到n)

证明：ξ-m的特征函数为f(t)，则ηn的特征函数为 [f(t/(σ*sqrt(n)))]^n

当n足够大，t/(σ*sqrt(n))则充分接近于0，则可以在0点附近将f(t/(σ*sqrt(n)))泰勒展开。

f(t/(σ*sqrt(n)))=f(0)+f'(0)*(t/(σ*sqrt(n)))+f''(0)*t^2/(2*σ^2*n)+o(t^2/(σ^2*n))

对于f(t)，易知f(0)=1，f'(0)=0，f''(0)=-σ^2，所以代入上式，得

f(t/(σ*sqrt(n)))=1-t^2/(2n)+o(t^2/(n*σ^2))

然后令n→∞，有 [f(t/(σ*sqrt(n)))]^n=[ 1-t^2/(2n)+o(t^2/(n*σ^2)) ]^n→exp(-t^2/2)

即ηn的特征函数收敛于标准正态分布的特征函数，所以由逆极限定理，

ηn的分布函数弱收敛于标准正态正态分布的分布函数。证完。

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系统误差

因为每组实验误差都是相同，是单向性的误差

得到鲁迅先生逝世的消息后，无数的人从四面八方赶来。其中还有青年颜黎明，黄包车夫和阿累。

青年颜黎明满眼泪水，他跪在鲁迅先生的灵堂面前：“可敬的鲁迅先生，您是多么关心我们青年啊，如今，您怎么离我们远去啦呢？”

“鲁迅先生大恩人啊，您为我们付出了这么多，要不是您，我的这条老腿早就残废了吧，如今您这么离去啦么？”车夫哭着，两只眼种红。

“不！”阿累大声喝止，却也是一脸悲痛的样子“鲁迅先生，他没有离我们而去，他永远活在我们的心中！”

“是啊，大恩人他永远活在我们的心中，他永远是伟大的！”